12月12日，大連創(chuàng)銳光譜科技有限公司（下文簡稱“創(chuàng)銳光譜”）官微發(fā)文稱，公司近日在碳化硅（SiC）襯底晶圓位錯缺陷的無損光學(xué)檢測技術(shù)方面取得突破性進展，并將同步推出SiC襯底晶圓位錯無損檢測專用設(shè)備:SIC-SUB-9900。
據(jù)介紹，該設(shè)備基于瞬態(tài)激發(fā)和散射光譜原理，采用大面... [詳內(nèi)文]
采用AI、識別率達90%，創(chuàng)銳光譜SiC設(shè)備公司獲新突破 |
| 作者 huang, Mia|發(fā)布日期 2023 年 12 月 12 日 17:42 | 分類 企業(yè) |